УКФ (проб-карты англ. probe cards, устройства контактные фиксированные) для контроля на зондовых установках при тестировании кристаллов полупроводниковых пластин.
Спроектируем плату под ваше измерительное оборудование.
Соберем зондовые иглы по образцу кристалла.
